SEM掃描電鏡即掃描電子顯微鏡，是一種常用的材料分析設(shè)備。根據(jù)使用電子槍種類不同，掃描電鏡可以分為鎢燈絲掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射電子槍掃描電鏡和六硼化鑭燈絲掃描電鏡。其中，鎢燈絲掃描電鏡是使用*普遍的，具有抗干擾能力強(qiáng)、穩(wěn)定性好的優(yōu)點(diǎn)，適合形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析和斷口形貌分析等應(yīng)用。而場(chǎng)發(fā)射電子槍掃描電鏡則分為冷場(chǎng)發(fā)射和熱場(chǎng)發(fā)射兩種，其中熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡具有連續(xù)工作時(shí)間長(zhǎng)、能與多種附件搭配實(shí)現(xiàn)綜合分析等優(yōu)點(diǎn)，應(yīng)用廣泛。

此外，SEM掃描電鏡在追求高分辨率、高圖像質(zhì)量發(fā)展的同時(shí)，也向復(fù)合型發(fā)展，即成為把掃描、透射及微區(qū)成分分析、電子背散射衍射等結(jié)合為一體的復(fù)合型電鏡，實(shí)現(xiàn)了表面形貌、微區(qū)成分和晶體結(jié)構(gòu)等多信息同位分析。

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